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量子效率測(cè)試儀的使用方法與步驟

更新時(shí)間:2024-08-06      點(diǎn)擊次數(shù):1148
  量子效率測(cè)試儀可提供大面積的均勻光斑,比傳統(tǒng)積分球提供更強(qiáng)的光強(qiáng),可以測(cè)量相機(jī)像素的量子效率以及整個(gè)芯片的相機(jī)參數(shù)。準(zhǔn)直光學(xué)技術(shù),提供半角1度的準(zhǔn)直光,可以進(jìn)行變角度CRA和CROSSTALK測(cè)試。利用分光技術(shù),測(cè)量的波長(zhǎng)范圍更可擴(kuò)展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測(cè)試系統(tǒng)。
 
  量子效率測(cè)試儀使用方法與步驟:
 
  (1):將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器,以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中,并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān),使電流保證在8.4到8.6安,打開單色儀開關(guān),打開皮安表開關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開關(guān)。
 
  (2):通過上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門,調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)。
 
  (3):調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。
 
  (4):記錄皮安表的數(shù)值,查表,找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值,用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值,得出功率值。(正好皮安對(duì)皮瓦)。
 
  (5):蓋住CCD相機(jī)的鏡頭,在CCD上位軟件上,連接設(shè)備,連續(xù)采圖,設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后。再單擊量子效率,完成暗圖像的采集。
 
  (6):調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處,(目前大約是回到原點(diǎn))。
 
  (7):揭開CCD的鏡頭,讓激光光斑打到CCD上,在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后,亮圖上打上對(duì)勾。再單擊量子效率,完成亮圖像的采集。
 
  (8):記錄量子效率的值。
 
  (9);在單色儀的上位軟件里,設(shè)定對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),波長(zhǎng)從400nm-780nm。設(shè)置起始波長(zhǎng)為400nm,每隔20nm,重復(fù)(3)到(8)步驟測(cè)一次量子效率的值。直到780nm為止。
 
  (10):繪制量子效率的曲線。
量子效率測(cè)試儀
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